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Raster-Elektronen-Mikroskop (REM+EDX)

Raster-Elektronen-Mikroskop (REM+EDX)

Raster-Elektronen-Mikroskop (REM+EDX)
Hersteller: Jeol
Besonderheiten: mit EDX-System für Elementanalytik

Einsatzgebiete: Untersuchung von Feststoffproben mit Vergrößerungen von 50 bis >100.000-fach,
Element- u. Elementverteilungsanalysen von Oberflächen
Beispiele:
- Untersuchung auf Asbestfasern,
- Untersuchung von Ausblühungen